原子力顯微鏡

產品簡介
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設備，可靈活配置和測試，具備優異測試穩定性和可靠性。

產品型號：

更新時間：2025-06-24

廠商性質：生產廠家

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Surface topography 表面形貌

Electrical properties 電學性質

Chemical properties 化學性質

Magnetically properties 磁學性質

原子力顯微鏡

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原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設備，可靈活配置和測試，具備優異測試穩定性和可靠性。

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